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    Title: 光學干涉式端對端量測儀
    Authors: 吳, 見明;楊, 志宏
    教師: 吳見明
    Date: 1997/2/21
    Relation: 專利權人:財團法人工業技術研究院
    Keywords: 光學
    干涉式
    端對端
    精密圓柱
    標準塞規
    Abstract: 本創作係有關於一種光學干涉式端對端量測裝置,特別是有關於精密圓柱或標準塞規之量測裝置。本創作之端對端量測裝置係包括:一滑台;一滑軌及承座;一平面砧面探頭;一圓柱砧面探頭;一組施力法碼;及一組光學干涉測長儀。本創作之量測裝置,特點為一對探頭呈垂直接觸,且其接觸面之平行度可藉旋轉平面探頭達成;本創作之另一特點為一絕對式量測設計,可直接追溯至光波波長。
    URI: http://twpat.tipo.gov.tw/
    http://nthur.lib.nthu.edu.tw/dspace/handle/987654321/58920
    Appears in Collections:[生醫工程與環境科學系] 專利

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