National Tsing Hua University Institutional Repository:Speeding up emulation based diagnosis techniques for logic cores
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    National Tsing Hua University Institutional Repository > 電機資訊學院 > 電機工程學系 > 期刊論文 >  Speeding up emulation based diagnosis techniques for logic cores


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    题名: Speeding up emulation based diagnosis techniques for logic cores
    作者: S.-K. Lu;S.-Y. Huang;C.-W. Wu;Y.-M. Chen
    教師: 吳誠文
    日期: 2011
    出版者: Institute of Electrical and Electronics Engineers
    關聯: IEEE DESIGN & TEST OF COMPUTERS, Institute of Electrical and Electronics Engineers, Volume 28, Issue 4, Special Issue SI, JUL-AUG 2011, Pages 88-97
    关键词: HARDNESS EVALUATION
    FAULT INJECTION
    CIRCUITS
    LOCATION
    摘要: This article proposes a new approach for an FPGA-based emulation system for IC fault diagnosis that incorporates three speedup techniques: circuit partitioning, fault-injection elements (using a novel design), and a fault-injection scan chain. Experimental results in terms of hardware overhead and emulation time for ISCAS-85 benchmark circuits are compared with previous works to highlight the 33× speedup and 44% reduced overhead of this proposed system.
    相関连結: http://www.ieee.org/
    URI: http://nthur.lib.nthu.edu.tw/dspace/handle/987654321/83582
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    [電腦與通訊科技研發中心] 期刊論文
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