National Tsing Hua University Institutional Repository:記憶體元件之內置自行測試電路
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    题名: 記憶體元件之內置自行測試電路
    作者: 黃, 錫瑜;蒯, 定明
    教師: 黃錫瑜
    日期: 2001/2/11
    關聯: 專利權人:台灣積體電路製造股份有限公司
    关键词: 記憶體
    自行測試
    測試電路
    摘要: 一種記憶體元件之內置自行測試電路。為了提供全速度測試,BIST電路之操作速度必須能配合測試記憶體之速度。傳統上,一個有限狀態機器係用於針對一組預定義的測試演繹所產生的測試序列。如果單純使用這個有限狀態機器,則會遇見效能表現的瓶頸。為了中斷此瓶頸,吾人提出基於預測邏輯的高速技術。藉由使用一個預測邏輯,在時序臨界路徑中的某種特定訊號,可以在一個時脈週期之前計算得之。利用配置正反器於這些訊號中,以打斷這些臨界路徑,因而縮短了時脈週期時間。吾人的合成結果指出所提出的技術可縮減達30%的時脈週期時間,且導出一個使用0.35μmCMOS胞程式庫的400MHz設計。
    URI: http://twpat.tipo.gov.tw/
    http://nthur.lib.nthu.edu.tw/dspace/handle/987654321/58858
    显示于类别:[電機工程學系] 專利

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