National Tsing Hua University Institutional Repository:Chemical Vapour Deposition of Tantalum Silicide Thin Film from Difluorosilylene and Tantalum Halides
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    National Tsing Hua University Institutional Repository > 歷任校長 > 劉兆玄 (1987-1993) > 期刊論文 >  Chemical Vapour Deposition of Tantalum Silicide Thin Film from Difluorosilylene and Tantalum Halides


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    题名: Chemical Vapour Deposition of Tantalum Silicide Thin Film from Difluorosilylene and Tantalum Halides
    作者: Lee, C. Y.;Huang, J. L.;Liu, C. S.
    教師: 劉兆玄
    日期: 1996
    出版者: Royal Society of Chemistry
    關聯: JOURNAL OF MATERIALS CHEMISTRY, Royal Society of Chemistry, Volume 6, Issue 7, JUL 1996, Pages 1131-1133
    关键词: Silicide
    Difluoro Silylene
    CVD
    Tantalum
    Tantalum Halides
    摘要: Thin films of TaSix have been grown on Si(111), SiO2 and graphite by LPCVD using SiF2 and TaX(5) (X = F, Cl) as the precursors. Thin films prepared at 190-300 degrees C contained polycrystalline TaSi2; 190 degrees C is the lowest temperature reported for the CVD preparation of TaSi2. The compositions of the thin films were found to be 50% TaSi2 and 50% amorphous silicon (a-Si).
    相関连結: http://www.rsc.org/
    URI: http://nthur.lib.nthu.edu.tw/dspace/handle/987654321/81107
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    [化學系] 期刊論文

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